X射線衍射儀

簡要描述：X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數(shù)確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。

產品型號：XRD-7000
廠商性質：代理商
更新時間：2024-07-04
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產品分類

日本島津

紫外分光光度計電子天平物理性分析元素分析與光譜儀島津色譜非破壞檢查裝置氣相色譜質譜聯(lián)用儀GCMS ROHS檢測儀查看全部產品

詳細介紹

X射線衍射儀技術特點：

XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定超大型樣品。不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結晶度的計算、晶體粒徑和晶格應力的計算、晶系確定、Rietveid結構解析軟件進行的晶體結構解析。通過追加附件，還可以應用于應力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺，可以進行最大350mmφ樣品全表面的自動應力成圖測定。采用強大的多毛細管平行光束系統(tǒng)，可對應凹凸不同的樣品的分析，擴大應用范圍。

MAXima_X XRD-7000

配備具有0.0001°較小步進的高精度樣品水平型測角儀。根據(jù)分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（較大350mmφ樣品）和通用的S型。

XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定大型樣品。
不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精細化、結晶度的計算、晶體粒徑和晶格應力的計算、晶系確定、Rietveid結構解析軟件進行的晶體結構解析。通過追加附件，還可以應用于應力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。